清单：开始前需要确认的信息

    • ☐ 显微镜型号和转盘型号（如 Yokogawa CSU-X1）

    • ☐ 物镜型号、倍率和 NA

    • ☐ 浸液类型（Air / Water / Oil）及其 RI

    • ☐ 封片/包埋介质及其 RI

    • ☐ 激光线波长（每通道）

    • ☐ 发射滤光片波长（每通道）

    • ☐ Z 步进间距

    • ☐ 相机像素尺寸

    • ☐ 相机端是否有额外变倍透镜

1. 启动 Huygens Essential 或 Huygens Professional

2. File → Open 加载图像

3. Huygens 自动从元数据中读取参数

1. 打开 Microscopic Parameter Editor

2. 逐项检查：

3. 多通道图像：每个通道独立检查参数（尤其是波长）

4. 确认后点击 Verify（验证） — 参数前圆点变为 ✓ 绿色

⚠ 常见陷阱：

- 转盘针孔参数通常不在元数据中 → 必须手动输入

- Z 步进值可能在元数据中有误差 → 核对采集软件设置

- 不要为了消除红色/橙色警告而修改参数

方式 A：Deconvolution Express（快速模式 — 推荐入门）

1. Deconvolution → Deconvolution Express

2. 选择智能模板（Smart Profile）：

3. Huygens 自动估计 SNR 和背景

4. 点击 Deconvolve → 完成后可用滑块调节平滑度 vs 锐度

✅ 详见: svi.nl/Deconvolution-Express

方式 B：Deconvolution Wizard（向导模式 — 精细控制）

1. Deconvolution → Deconvolution Wizard

2. Step 1 — Parameter Check：再次确认显微参数

3. Step 2 — Cropping：可选裁剪不需要的区域

4. Step 3 — Deconvolution Parameters：

    •  Algorithm: CMLE（推荐）/ GMLE / QMLE

    • PSF Mode: Theoretical 或 Measured

    • SNR: 使用自动估算值

    • Acuity: 默认值开始

    • Max iterations: CMLE 40–100 / GMLE 10–25 / QMLE 10–20

    • Background: Auto，可用百分比微调

5. Step 4 — Preview & Run：Preview 查看效果 → Deconvolve All

6. Step 5 — Save

1. 视觉检查：使用 Twin Slicer 并排比较原图和反卷积结果

2. 检查伪影：边缘振铃？过度锐化？背景异常？

3. 如果不理想：

    • 调节 Acuity 滑块

    • 核对显微参数（特别是针孔参数）

    • 尝试不同 SNR 值

保存反卷积结果

    • 推荐格式：ICS/IDS（保留全部元数据）、OME-TIFF、HDF5

    • 避免 8-bit TIFF（丢失动态范围）

保存参数模板

验证完成后保存为 .hgst 模板文件，便于后续同类数据批处理：

    • Windows: C:Program FilesSVITemplates

    • macOS: /Applications/SVI/Templates/

    • Linux: /usr/local/svi/Templates/

    • 用户个人目录: ~/SVI/

模板可在 Workflow Processor / Batch Processor 中用于批量处理。

下期继续！！！！！